屏蔽室或屏蔽暗室的屏蔽效能測試或性能測試是安裝的最后階段，這也可能是最重要的階段。不幸的是，測試過(guò)程被認為是麻煩的或在某種程度上被認為是不可思義,事實(shí)上，屏蔽室的測試標準是一致的。

主要的區別在于測試所用的設備不同。

事實(shí)上，屏蔽效能測試很簡(jiǎn)單，并與MIL-STD-220也就是插入損耗測試標準是一致的。主要的區別在于測試所用的設備不同。

屏蔽房屏蔽效能測試基本上等同于電子測試設備的校準。與測試設備一樣，當小型屏蔽房的屏蔽效能降低時(shí)就需要對其進(jìn)行校準。當校準屏蔽房或測定屏蔽暗室的屏蔽效能時(shí)，要使用輻射測試技術(shù)。所幸的是美國軍方和安全部門(mén)已建立了相應的標準。這些標準描述了特定頻率和測試場(chǎng)地條件下的測試方法、設備和測試過(guò)程。這些測試過(guò)程經(jīng)過(guò)微小的調整，就能應用于任何屏蔽房的安裝，并滿(mǎn)足用戶(hù)要求。

測試屏蔽效能最經(jīng)常用到的兩個(gè)測試標準或測試程序是MIL-STD-285和NSA65-6。這些文件描述了對設備配置和測試場(chǎng)地的要求。每個(gè)程序中也規定了測試頻率和衰減量。

屏蔽房屏蔽效能測試標準的描述
 MIL-STD-285屏蔽效能測試標準

近年來(lái)， MIL-STD-285不但在工業(yè)界廣為應用，而且迄今為止應用最為廣泛。 MIL-STD-285規定的測試程序在屏蔽室規范上經(jīng)常被引用，但其頻率需根據用戶(hù)要求進(jìn)行調整。
 MIL-STD-285是第一個(gè)頒布的用于測試射頻屏蔽小室標準，它頒布于1956年６月，用于替代頒布于1954年８月的MIL-A-18123（SHIPS)。
MIL-STD-285標準的主要目的是為了建立一種標準或者方法，用于測量射頻屏蔽室的衰減特性，這些屏蔽室用于頻率范圍從100KHZ到10GHZ的電子測試。該標準包括對測試頻率、測試場(chǎng)地和屏蔽衰減（或者屏蔽效能）的要求。
MIL-STD-285５屏蔽房屏蔽效能測試標準也提供了關(guān)于測試所需設備種類(lèi)的描述。盡管 MIL-STD-285標準覆蓋了從100KHZ到10GHZ的頻率范圍，但它僅僅要求測量屏蔽室在５個(gè)頻率點(diǎn)的衰減特性（參見(jiàn)表１）